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Jornada práctica sobre sistemas embebidos

publicado a la‎(s)‎ 31 oct. 2016 5:39 por Miguel Angel José Prieto
El próximo Miércoles 9 de noviembre en horario de 09:30 a 11:30 se impartirá en el Parque Científico Tecnológico de Gijón por parte de representantes de National Instruments una sesión práctica sobre el desarrollo de sistemas de monitorización y control con LabVIEW y CompactRIO.

Durante esta sesión se podrá explorar el diseño gráfico de sistemas, utilizando el entorno de desarrollo LabVIEW y los sistemas CompactRIO de National Instruments. La asistencia es gratuita previa inscripción a través de este enlace, pero las plazas son limitadas.

Desde la Coordinación del Máster en Ingeniería Mecatrónica se considera que esta sesión práctica es muy interesante para los alumnos de la titulación, por lo que se les anima a tratar de asistir a las mismas.
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